SPM600系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款專用于半導(dǎo)體材料光電測試的系統(tǒng)。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描、光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試。40um探測光斑，實(shí)現(xiàn)百微米級(jí)探測器的絕對(duì)光譜響應(yīng)度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時(shí)間的連續(xù)測試，是半導(dǎo)體微納器件研究的優(yōu)選。

產(chǎn)品型號(hào)：SPM600

更新時(shí)間：2025-11-08

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SPM600 系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款專用于半導(dǎo)體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試。40μm 探測光斑，實(shí)現(xiàn)百微米級(jí)探測器的絕對(duì)光譜響應(yīng)度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時(shí)間的連續(xù)測試，豐富的光源選擇以及多層光學(xué)光路設(shè)計(jì)可擴(kuò)展多路光源，例如超連續(xù)白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導(dǎo)體激光器，鹵素?zé)?，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是半導(dǎo)體微納器件研究的優(yōu)選。